溫度循環(huán)試驗和溫度沖擊試驗都是電工電子類產(chǎn)品使用頻次較高的兩個氣候環(huán)境適應(yīng)性檢測項目，主要考核產(chǎn)品或部件在溫度急劇變化條件下的環(huán)境適應(yīng)性能力。

一、溫度循環(huán)試驗

溫度循環(huán)試驗箱

1、測試目的 ： 溫度循環(huán)試驗主要用來確定設(shè)備在環(huán)境溫度變化條件下的耐受能力。

2、測試狀態(tài) ：通電或不通電兩種狀態(tài)都有(依據(jù)產(chǎn)品而定)

3、測試參數(shù)：

a、高溫溫度點、低溫溫度點

b、試驗樣品在高溫或低溫溫度點條件下持續(xù)時間

c、溫度從高溫到低溫或從低溫到高溫的溫度變化速率

d、試驗循環(huán)次數(shù)

4、測試設(shè)備：

a、普通溫度箱，可實現(xiàn)不帶溫度變化速率，或溫變速率較慢如1℃/min變化速率的溫度變化試驗；

b、快速溫變箱，可實現(xiàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求3℃/min,5℃/min,10℃/min,15℃/min的快速溫度循環(huán)試驗。

二、溫度沖擊試驗

溫度沖擊試驗箱

1、測試目的 ：主要是用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境快速變化時的環(huán)境適應(yīng)性能力。

2、測試狀態(tài) ：樣品通常不通電 ( 依據(jù)產(chǎn)品而定 )

3、測試參數(shù)：

a、高溫溫度點、低溫溫度點

b、試驗樣品在高溫或低溫溫度點條件下持續(xù)時間

c、溫度從高溫到低溫或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時間（一般轉(zhuǎn)換時間為3min或5min）

d、溫度沖擊試驗循環(huán)次數(shù)

4、測試設(shè)備：

a、可使用兩個獨立的溫度試驗箱進(jìn)行人工或自動轉(zhuǎn)換的方法，但這種方法對于循環(huán)次數(shù)多，溫度點保持時間短的試驗，操作起來比較麻煩，不能離開測試人員，耗費太多的人力。

b、使用一個溫度沖擊試驗箱，也就是俗稱一箱法，它通過轉(zhuǎn)換高溫風(fēng)門和低溫風(fēng)門的方式來實現(xiàn)，這種方式簡單便捷，通過設(shè)置試驗箱程序就可以完成，不會占用測試人員的時間。

溫度循環(huán)試驗是規(guī)定溫度變化速率，溫度沖擊試驗是規(guī)定溫度轉(zhuǎn)換時間，溫度循環(huán)試驗多采用GB/T2423.22標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗，溫度沖擊試驗多采用GJB150.5A-2009和GB/T2423.22標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗。

溫度循環(huán)中的快速溫變試驗是產(chǎn)品可靠性環(huán)境應(yīng)力篩選時常用的檢測項目之一，通常依據(jù)GJB1032-90標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試。

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